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福建省测试技术研究所
纸质出版日期:1997
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陈, 陈朝旭. 扫描电镜-X射线能谱法测定镀金饰品的镀层结构[J]. 分析测试学报, 1997,(5).
陈, 陈朝旭. 扫描电镜-X射线能谱法测定镀金饰品的镀层结构[J]. 分析测试学报, 1997,(5). DOI:
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介绍一种测定镀金饰品镀层结构的方法。该法可测定厚度为几十纳米的镀层成分。
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