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大连海事大学金属材料研究所
纸质出版日期:1996
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于志伟, 黑祖昆, 马永庆, 王亮. 采用Seemann-Bohlin准聚焦X射线衍射仪测量薄膜厚度的误差理论分析[J]. 分析测试学报, 1996,(5).
于志伟, 黑祖昆, 马永庆, 王亮. 采用Seemann-Bohlin准聚焦X射线衍射仪测量薄膜厚度的误差理论分析[J]. 分析测试学报, 1996,(5). DOI:
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本文从理论上分析了衍射强度比偏差Δ(I/I∞)和衍射峰位偏差Δ2θ对Seemann-Bohlin准聚焦X射线衍射仪测量表面单层薄膜厚度误差的影响。分析结果表明,降低Δ(I/I∞)可提高膜厚的测量精度,在Δ(I/I∞)-定的情况下,按μρt[Sin(-1)γ+Sin(-1)(2θ-γ)]=1选择靶辐射和衍射晶面可使由Δ(I/I∞)导致的膜厚测量误差具有极小值;选择高角度衍射线有助于减小试样离焦引起的衍射峰位偏差,亦可降低因衍射角测量偏差导致的膜厚测量误差,当衍射线处于薄膜的法向2θ=γ+π/2时,角度项误差(Δt/t)(2θ)完全消除。
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