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东莞理工学院应用化学系
纸质出版日期:1998
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阮湘元, 白燕, 周友明, 苏亚玲, 冯德雄, 赵鸿斌. 低信膜比条件下金膜电极电位溶出分析法研究[J]. 分析测试学报, 1998,(3).
阮湘元, 白燕, 周友明, 苏亚玲, 冯德雄, 赵鸿斌. 低信膜比条件下金膜电极电位溶出分析法研究[J]. 分析测试学报, 1998,(3). DOI:
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推导并验证了信号与金膜厚度的比值较小(即低信膜比)时金膜电极电位溶出分析法的过渡时间方程式和电位时间方程式。实验确定的理论式的应用条件为τ/l2≤58×1010s/cm2,并发现当扩散路径约为扩散层厚度的3倍时,便可按半无限扩散条件处理扩散问题。从而解决了利用小信号进行金膜电极电位溶出基本问题,即信号与浓度的定量关系。
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