用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分

潘艺永; 李越生; 陈维孝; 宗祥福

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用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分

更新时间：2025-02-21

- 用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分
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- 分析测试学报 1999年第1期
- 作者机构：
  
  复旦大学材料科学系,复旦大学材料科学系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： O657.6
- 纸质出版日期：1999
- 稿件说明：
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潘艺永, 李越生, 陈维孝, 宗祥福. 用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分[J]. 分析测试学报, 1999,(1).
潘艺永, 李越生, 陈维孝, 宗祥福. 用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分[J]. 分析测试学报, 1999,(1). DOI：

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用飞行时间二次离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合银离化的方法研究了集成电路封装中常用的环氧模塑料的两种主要成分：邻甲酚环氧树脂和线型酚醛树脂。测得ｎ＝０～４的环氧树脂分子及相应的水解成分和ｎ＝１～７的酚醛树脂分子。碎片离子中除了芳香化合物的特征碎片外，还有反映树脂结构的碎片。通过对环氧树脂银离化碎片离子的分析，推断中间苯环上的侧链是最可能断裂的

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