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纸质出版日期:2000
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肖贻崧, 周立勇, 侯镜德, 冯建跃. 冲洗色谱特征点法测定表面分形维数初探[J]. 分析测试学报, 2000,(3):15-18.
肖贻崧, 周立勇, 侯镜德, 冯建跃. 冲洗色谱特征点法测定表面分形维数初探[J]. 分析测试学报, 2000,(3):15-18. DOI:
DOI:
在用非线性气相色谱测填料表面分形维数中
首次运用气固色谱ECP法 (elutionbycharacteristicpointsmethod)
测定了正戊烷、正己烷、正庚烷3种烷烃在不同颗粒大小的硅胶表面的吸附等温线
通过拟合Langmuir方程
求出单分子饱和吸附容量
并采用单分子层吸附的分形模型
求得硅胶的表面分形维数
提供了一种测定表面分形维数的新方法
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