高纯金属镱中杂质元素的电感耦合等离子体质谱法测定

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更新时间：2025-02-21

- 高纯金属镱中杂质元素的电感耦合等离子体质谱法测定
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- 分析测试学报 2004年第6期页码：73-76
- 作者机构：
  
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  中图分类号： TG115
- 纸质出版日期：2004
- 稿件说明：
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章新泉, 刘晶磊, 易永, 姜玉梅, 林平, 童迎东. 高纯金属镱中杂质元素的电感耦合等离子体质谱法测定[J]. 分析测试学报, 2004,(6):73-76.
章新泉, 刘晶磊, 易永, 姜玉梅, 林平, 童迎东. 高纯金属镱中杂质元素的电感耦合等离子体质谱法测定[J]. 分析测试学报, 2004,(6):73-76. DOI：

DOI：

利用电感耦合等离子体质谱仪 (ICP -MS)直接测定了金属镱中除Tm、Lu外其他稀土及非稀土杂质元素 ;通过P507 萃淋树脂色层柱

分离绝大部分Yb基体

避免了基体元素对Tm、Lu的测定干扰。定量加入内标元素Sc、Cs

有效克服了基体效应所带来的偏差。稀土杂质元素的检出限0.010～0.032μg/g

非稀土杂质元素的检出限为0.12～5.0μg/g。加标回收率为83 %～105 %。方法适用于纯度为99.99 %～99.999 %的高纯金属镱产品中杂质元素的测定

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