3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究

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3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究

更新时间：2025-02-21

- 3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究
- 暂无标题
- 分析测试学报 2005年第6期页码：119-121
- 作者机构：
  
  上海交通大学分析测试中心 2. 上海纳米科技与产业发展促进中心
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家科技公关项目(2003BA310A02);上海市纳米重大专项(0359nm206)
- DOI：
  中图分类号： O4-34
- 纸质出版日期：2005
- 稿件说明：
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王瑞斌, 何琳, 李刚, 钮晓鸣, 何丹农, 路庆华. 3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究[J]. 分析测试学报, 2005,(6):119-121.
王瑞斌, 何琳, 李刚, 钮晓鸣, 何丹农, 路庆华. 3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究[J]. 分析测试学报, 2005,(6):119-121. DOI：

DOI：

采用聚苯乙烯球形颗粒

对3种常用颗粒粒径测试仪器扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、光子相关光谱仪(PCS)的测试结果进行比对

结果表明

对于球形颗粒

3种测试方法所得到的颗粒粒径具有一致性。

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