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北京师范大学分析测试中心,北京,100875
纸质出版日期:2005
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吴正龙. X光电子能谱分析中光电子峰和俄歇峰的干扰及消除[J]. 分析测试学报, 2005,(3):45-47.
吴正龙. X光电子能谱分析中光电子峰和俄歇峰的干扰及消除[J]. 分析测试学报, 2005,(3):45-47. DOI:
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X光电子能谱(XPS)在分析多元素材料时
光电子峰可能受到其它元素俄歇谱的干扰。在AlKα激发CrZnSi合金样品时
光电子峰Cr2p和俄歇峰ZnLMM相互干扰
而换用双阳极中的MgKα源激发
虽可消除此相互干扰
但样品表面的C1s和N1s又会受到ZnLMM干扰。类似地
AlKα激发的GaN样品中N1s受俄歇峰GaLMM的严重干扰
而换用MgKα源激发时
C1s峰又受到的GaLMM的干扰。交替使用Mg/Al双阳极激发源
可改变XPS分析中的俄歇谱及其背景对光电子峰的干扰位置
并用未受干扰的峰互相校正2组谱图能量位置
以对样品谱峰作出正确的分析。
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CSCD
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