薄膜/基片系统红外透射光谱振荡现象的研究

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薄膜/基片系统红外透射光谱振荡现象的研究

更新时间：2025-02-21

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- 薄膜/基片系统红外透射光谱振荡现象的研究
- 暂无标题
- 分析测试学报 2007年第1期页码：73-76
- 作者机构：
  
  安徽大学物理与材料科学学院,安徽大学物理与材料科学学院,安徽大学物理与材料科学学院,安徽大学物理与材料科学学院安徽合肥230039,安徽合肥230039,安徽合肥230039,安徽,合肥,230039
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金资助项目(59972001);安徽省自然科学基金资助项目(01044901);安徽省人才专项基金项目(2004Z029);安徽大学人才队伍建设基金资助课题(05025103)
- DOI：
  中图分类号： O484.41
- 纸质出版日期：2007
- 稿件说明：
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孙兆奇, 蔡琪, 王佩红, 宋学萍. 薄膜/基片系统红外透射光谱振荡现象的研究[J]. 分析测试学报, 2007,(1):73-76.
孙兆奇, 蔡琪, 王佩红, 宋学萍. 薄膜/基片系统红外透射光谱振荡现象的研究[J]. 分析测试学报, 2007,(1):73-76. DOI：

DOI：

摘要

在研究用射频磁控共溅射法制备的不同体积含量的Au-MgF2纳米金属陶瓷复合薄膜/Si基片系统的红外光谱特性时发现:薄膜的红外光谱存在振荡现象

同时在振荡的红外光谱中出现明显的包络线

这些现象对薄膜的光学特性分析带来一定困难。定性和定量分析表明这两种现象均由光透过基片产生的多光束干涉引起

并给出了消除此现象的方法。

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