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全内反射荧光成像技术及其在单分子检测中的研究进展
综述 | 更新时间:2025-02-21
    • 全内反射荧光成像技术及其在单分子检测中的研究进展

    • 暂无标题

    • 分析测试学报   2007年第3期 页码:445-449
    • 中图分类号: O657.3
    • 纸质出版日期:2007

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  • 何化, 任吉存. 全内反射荧光成像技术及其在单分子检测中的研究进展[J]. 分析测试学报, 2007,(3):445-449. DOI:

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