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1. 中国科学院上海硅酸盐研究所无机材料分析测试中心
2. 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
纸质出版日期:2009
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程国峰, 杨传铮, 张健. 填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究[J]. 分析测试学报, 2009,(3):342-344.
程国峰, 杨传铮, 张健. 填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究[J]. 分析测试学报, 2009,(3):342-344. DOI:
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从理论和实验两个角度研究了填样深度对多晶粉末X射线衍射仪中实验结果——峰位、半高宽(FWHM)、衍射强度的影响。结果表明
在对称反射几何情况下
金属及其合金样品填样深度效应可以忽略
填样深度在0.2~0.5mm范围内能满足无穷厚度要求;对于绝大多数有机样品填样深度应不小于1.5mm。
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