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云南省分析测试研究所!昆明650051,云南省分析测试研究所!昆明650051,昆明物理所,昆明,650223
纸质出版日期:1996
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崔永杰, 杨晓云, 刘朝旺. XPS定量分析及其在CdTe(Ⅲ)面识别化学物种中的应用[J]. 分析测试学报, 1996,(6):17-22.
崔永杰, 杨晓云, 刘朝旺. XPS定量分析及其在CdTe(Ⅲ)面识别化学物种中的应用[J]. 分析测试学报, 1996,(6):17-22. DOI:
DOI:
我们用谱仪能量传输函数修正的相对原子灵敏度因子获得了XPS定量数据。通过将定量结果与结合能的化学位移相结合的方法
分析了CdTe表面的两个氧化过程
结果表明
机械抛光样品表面的构成是:66%CdTe
28.9%的Cd(OH)2和5.1%TeOx(X>2)
而经化学抛光的表面构成是∶84.4%的TdTeO4和15.6%TeOx(X>1)
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