横向光热偏转技术检测双硫腙(H<sub>2</sub>Dz)固体试样光谱特性

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横向光热偏转技术检测双硫腙(H₂Dz)固体试样光谱特性

更新时间：2025-02-21

- 横向光热偏转技术检测双硫腙(H₂Dz)固体试样光谱特性
- 暂无标题
- 分析测试学报 1995年第1期
- 作者机构：
  
  1. 香港城市理工学院应用科学系
  2. 华东工学院近代光学技术应用研究所
  3. 中国科学院生态环境研究中心
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： O434.19
- 纸质出版日期：1995
- 稿件说明：
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肖季驹, 林太基, 程祖良, 赖奇略. 横向光热偏转技术检测双硫腙(H₂Dz)固体试样光谱特性[J]. 分析测试学报, 1995,(1).
肖季驹, 林太基, 程祖良, 赖奇略. 横向光热偏转技术检测双硫腙(H₂Dz)固体试样光谱特性[J]. 分析测试学报, 1995,(1). DOI：

DOI：

摘要

用横向光热偏转技术测量双硫踪(Ｈ

２

Ｄｚ)固体试样的光谱特性及Ｈ

２

Ｄｚ的浓度与横向光热偏转幅度之间的关系，检测限可达ｎｇ量级，为固体不透明材料的微量特性分析提供了一个简便的方法。

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