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用碳糊修饰电极测定氨基酸的伏安法研究 Ⅱ.组氨酸在氧化铝修饰碳糊电极上的电化学行为
更新时间：2025-02-21

    • 用碳糊修饰电极测定氨基酸的伏安法研究 Ⅱ.组氨酸在氧化铝修饰碳糊电极上的电化学行为

    • 暂无标题

    • 分析测试学报   1999年第3期
    • 中图分类号： O657.14

    • 纸质出版日期：1999

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  • 邹永德, 王进, 莫金垣, 张润建. 用碳糊修饰电极测定氨基酸的伏安法研究 Ⅱ.组氨酸在氧化铝修饰碳糊电极上的电化学行为[J]. 分析测试学报, 1999,(3). DOI：

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西南师范大学物理系电镜室 ,西南师范大学物理系电镜室 ,西南师范大学物理系电镜室
杭州大学化学系,杭州大学化学系,杭州大学化学系,杭州大学化学系,杭州大学化学系 杭州 310028 ,杭州 310028 ,杭州 310028 ,杭州 310028
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