基于透射电镜X射线能谱仪得到的微区成分信息及高分辨电子显微结构信息

构建具有氧空位缺陷的ZrO2晶体结构模型

用200 kV透射电子显微镜的参数进行高分辨实验像的多片层法模拟计算

观察分析了ZrO2多晶材料样品的晶格缺陷。沿[001]方向的二维晶格像及相应的傅立叶变换像显示出ZrO2样品的晶格缺陷。将计算机模拟结果与高分辨实验像进行比较

结果表明计算机模拟像的衬度及周期性与实验像之间符合良好。根据晶体结构的缺陷模型和模拟计算

阐明了氧空位缺陷引起的实验像衬度的变化。通过高分辨电子显微观察结果及计算机模拟结果

揭示了陶瓷ZrO2多晶材料样品晶格中氧空位的存在。